TITANIUM
АСМ Раман
Модульные СЗМ
Автоматизированные СЗМ
Специализированные СЗМ
 

Главная-> Асм Раман-> ИНТЕГРА Спектра


Модельный ряд
ИНТЕГРА Спектра ИНТЕГРА Спектра – автоматизированый АСМ-Раман-СБОМ измерительный комплекс широкого применения SPECTRUM SPECTRUM – автоматизированый АСМ-Раман-СБОМ измерительный комплекс широкого применения ИНТЕГРА Спектра II ИНТЕГРА Спектра II – автоматизированый АСМ-Раман-СБОМ измерительный комплекс широкого применения


 

ИНТЕГРА Спектра

Междисциплинарные исследования на
нанометровом уровне: АСМ + СБОМ +
флуоресцентная/ КР спектроскопия
NTEGRA Spectra – AFM-Raman-SNOM system. NT-MDT – AFM-probes, atomic force microscope (AFM, STM, SPM, RAMAN, SNOM
Информационная брошюра
Spectra
(8.27 Мб)
Принцип работы Применения Спецификация Скачать Контакты
 

Интеграция СЗМ и конфокальной микроскопии / КР (рамановский) спектроскопии. Благодаря зондово-усиленному КР (TERS) позволяет проводить спектроскопию / микроскопию с разрешением до 10 нм

ИНТЕГРА Спектра - АСМ/Конфокальное КР/Флуоресценция/СБОМ/TERS

Интеграция: Ключ к новым знаниям
Изменение происходит в интерфейсах, и сегодняшние самые захватывающие изменения в микроскопии происходят там, где объединяются различные технологии. ИНТЕГРА Спектра прекрасный пример таких изменений, объединяющий всю мощь атомно-силовой микроскопии (АСМ), конфокальной рамановский и флуоресцентной микроскопии и ближнепольной оптической микроскопии в едином комплексе.

Одновременное АСМ и конфокальное рамановское/флуоресцентное отображение  
ИНТЕГРА Спектра поддерживает большинство существующих АСМ методик (более 30), обеспечивая расширенную информацию о физических свойствах образца с нанометровым разрешением: локальнай жесткости, проводимости, емкости, намагниченности, поверхностном потенциале и работе выхода, коэффициенте трения, пьезоотклике и пр. Одновременно с АСМ конфокальная флуоресценция и рамановские измерения дают информацию о химическом составе, кристаллической структуре и ее ориентации, наличия примесей и дефектов, макромолекулярной конформации и т.д.

Измерения могут проводиться с применением оптического возбуждения по прямой или инвертированной схеме. Образец может находиться в окружающей атмосфере или в жидкой среде, при контролируемой температуре. Полный рамановский/флуоресцентный спектр записывается в каждой точке 2D / 3D скана с дальнейшим анализом с применением мощного ПО. Благодаря превосходному качеству микроскопии ИНТЕГРы  Спектра 3D спектральное распределение может быть изучено с пространственным разрешением, достигающим теоретического предела.

 

Микроскопия и спектроскопия на молекулярном уровнe
Дифракционно ограниченное пространственное разрешение и малость Рамановского сигнала являются двумя основными проблемами в Рамановской микроскопии. При использовании видимого излучения разрешение классической конфокальной микроскопии не опускается ниже 200 нм. Новый мир нанотехнологий раскрыл увлекательное явление: электромагнитное излучение может резко усилено вблизи металлической наноразмерной частицы или неоднородности (“наноантенны”).

Результирующие эффекты называются поверхностно-усиленным рамановским рассеянием (Surface Enhanced Raman Scattering, SERS) либо, если они связаны с острием СЗМ зонда, может достигаться зондово-усиленное рамановское рассеяние (Tip-Enhanced Raman Scattering, TERS).

С использованием специально приготовленных остроконечных зондов ИНТЕГРА Спектра при прецизионном сканировании может увеличивать мощность рамановского сигнала на несколько порядков величины с участка поверхности нанометровых размеров. Даже единичные молекулы могут быть обнаружены и идентифицированы по их спектру. Латеральное разрешение рамановских (TERS) или флуоресцентных карт более не ограничивается дифракционным пределом и может достигать величины менее 15 нм.

Различные конфигурации АСМ и конфокальной рамановской/флуоресцентной микроскопии

Прямая конфигурация

Уникальная конфигурация одновременного получения АСМ-Раман-TERS* и СБОМ изображений на непрозрачных образцах.

*TERS: Tip Enhanced Raman Scattering, Tip Enhanced Fluorescence etc.

Инвертированная конфигурация

Конфигурация, оптимизированная для одновременного получения АСМ-Раман-TERS* и СБОМ изображений образцов (живых клеток, наночастиц и пр.) на прозрачных подложках.

*TERS: Tip Enhanced Raman Scattering, Tip Enhanced Fluorescence etc.

Боковая засветка

Конфигурация оптимизирована для получения TERS* изображений на непрозрачных образцах.

*TERS: Tip Enhanced Raman Scattering, Tip Enhanced Fluorescence etc.

Конфигурации оптоволоконного СБОМ

Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия (СБОМ) с использованием зонда на основе кварцевого оптоволокна.
 

Конфигурации кантилеверного СБОМ

Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия (СБОМ) с использованием кантилеверного АСМ зонда с апертурой.
 


•     Атомно-силовая микроскопия ( > 30 методик )
•     Конфокальная рамановская/флуоресцентная/рэлеевская микроскопии
•     Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия (СБОМ)
•     Оптимизация для Зондово-усиленной Рамановской и флуоресцентной спектроскопии (TERS, TEFS, TERFS) и рассеивающей СБОМ (s-SNOM)


HybriD Mode™
ИНТЕГРА Спектра снабжена новыми электроникой и ПО, позволяющими комбинировать разработанную ранее инновационную HybriD Mode™ HybriD Mode™ (HD-AFM™ Mode) для исследований наномеханических свойств и Рамановскую спектроскопию для отображения химических свойств одной и той же области за одну измерительную сессию

       

Отображение жесткости HDPE/LDPE среза полимерного сэндвича, полученного на микротоме

 

Наложение рамановских карт: HDPE (красное), LDPE (синее)

 

АСМ рельеф

Размер изображения: 34 × 34 мкм
Данные представили: М. Янул, С.Магонов, П. Дорожкин, НТ-МДТ.

 


 

Принцип работы

Методики:
 
  • Более 30 АСМ методов для измерения рельефа поверхности, механических,
    электрических, магнитных свойств образца, проведения наноманипуляций и пр.
  • Оптическая микроскопия и конфокальная лазерная (Рэлеевская) микроскопия
  • Конфокальная КР микроскопия
  • Конфокальный флуоресцентный анализ: изображение и спектроскопия
  • Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия (СБОМ), в том числе безапертурная
  • Зондово-усиленная КР / флуоресцентная спектроскопия (TERS, TEFS)
Контролируемые условия измерений:
 
  • Температура образца
  • Влажность
  • Газовый состав
  • Измерения в жидкости
  • Внешнее магнитное поле
  • Использование электрохимической ячейки
 

Применения

NTEGRA Spectra: description and applications   (7.8 Mb)

  • Исследование графена, углеродных нанотрубок и других других углеродных материалов
  • Полупроводники
  • Нанотрубки, нанопроволоки, квантовые точки и другие наноматериалы
  • Полимеры
  • Определение характеристик оптических устройств: полупроводниковые лазеры, оптоволокно, волноводы, устройства плазмоники
  • Исследования клеточной ткани, ДНК, вирусов и других биологических объектов
  • Контроль химических реакций
 

Graphene flakes

30x30 um

Ni foil

20x20 um

PC-PVAC film

30x30 um

MoO3

30x30 um

 

 

Спецификация

Конфокальная КР / Флуоресцентная микроскопия
АСМ/СТМ: интеграция со спектроскопией
Программное обеспечение
Спектроскопия
Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия (СБОМ)
Гигантское комбинационное рассеяние и другие оптические методики, связанные с локальным усилением сигнала (TERS, TEFS, S-SNOM, STM-LE)

 

Конфокальная КР / Флуоресцентная микроскопия 
Одновременное исследование одной и той же области образца методами конфокальной КР/ флуоресцентной/ Рэлеевской микроскопии и атомно-силовой микроскопии
Дифракционный предел пространственного разрешения: <200 нм по осям X и Y, <500 нм по оси Z (с иммерсионным объективом)
Истинная конфокальность − диафрагма с моторизованным изменением размера для обеспечения конфокальности и оптимизации сигнала
Моторизированный расширитель пучка/коллиматор: используйте индивидуальные настройки диаметра и коллимации луча для разных лазеров и объективов
Получение гиперспектральных изображений (полный спектр КР регистрируется в каждой точке одно-, двух- и трехмерного конфокального изображения) с последующей программной обработкой
Оптическая литография (векторная, растровая)
АСМ/СТМ: интеграция со спектроскопией
Прямая и инвертированная оптические схемы совмещения с АСМ (оптимизированы для изучения непрозрачных и прозрачных образцов соответственно), возможна схема боковой засветки
Оптика с максимально возможным оптическим разрешением (числовой апертурой) при одновременных АСМ исследованиях: 0,7 NA для прямой схемы, 1,3–1,4 NA для инвертированной схемы
Одновременное исследование одного и того же образца методами АСМ / СТМ и конфокальной лазерной/КР/ флуоресцентной микроскопии
Поддерживаются стандартные методики СЗМ (более 30 методик) — в сочетании с конфокальной КР / флуоресцентной микроскопией
Низкий уровень шума при исследованиях методами АСМ / СТМ (атомарное разрешение)
Оптическая АСМ головка уникальной конструкции обеспечивает минимизацию вибраций и термодрейфов, возникающих при использовании оптического микроскопа
Автоматическое отслеживание фокуса: образец всегда находится в фокусе благодаря АСМ обратной связи по Z. Может быть достигнуто высокое качество конфокальных изображений образцов с шероховатой или наклонной поверхностью
Программное обеспечение
Полная интеграция АСМ и оптической микроскопии / спектроскопии: исследования всеми методами АСМ / КР микроскопии / СБОМ, дальнейшая обработка результатов и анализ данных осуществляются одним и тем же программным обеспечением
Комплексный анализ одно-, двух- и трехмерных гиперспектральных изображений
Возможен экспорт данных в другие программы (Excel, MatLab, Cytospec etc.)
Спектроскопия*
Очень высокая оптическая эффективность 520 мм спектрометра с четырьмя моторизованными решетками
Доступны видимый, УФ и ИК диапазоны спектра
 
Решетка Эшелле со сверхвысокой дисперсией; спектральное разрешение: 0.007 нм  (< 0.1 1/cm)**
В одном комплексе возможна установка до 3 различных детекторов:
  • CCD камера с термоэлектрическим охлаждением до -100°C или EMCCD камера — для быстрого сканирования
  • фотоэлектронный умножитель (ФЭУ) или лавинный фотодиод (ЛФД) в режиме счета фотонов
  • фотоэлектронный умножитель для Рэлеевской микроскопии.
Возможность использования моторизованных поляризационных устройств в каналах возбуждения и детектирования, измерение КР в скрещенных поляризациях
Автоматизированное переключение между различными лазерами
Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия (СБОМ)
Поддерживаются два основных типа СБОМ: (i) основанный на применении оптоволоконных зондов, (ii) основаный на применении кремниевых АСМ зондов
Поддерживаются все оптические схемы: на пропускание, на отражение, сбора излучения
Регистрируются все СБОМ сигналы: интенсивность лазерного излучения,  флуоресценция, а также спектроскопия

СБОМ литография (векторная, растровая)

Гигантское комбинационное рассеяние  и другие оптические методики, связанные с локальным  усилением сигнала (TERS, TEFS, S-SNOM, STM-LE)
Доступны все существующие конфигурации TERS: засветка/сбор снизу, сверху, сбоку
Могут быть использованы различные СЗМ методики и типы зондов: СТМ иглы, АСМ зондовые датчики (микромеханические и камертонные) в полуконтактной методике и поперечно-силовой микроскопии
Двойное сканирование (для нахождения точки усиления TERS): сканирование образцом и сканирование зондом / пятном лазера
Моторизованная поляризационная оптика для обеспечения оптимальной для TERS поляризации

ИНТЕГРА Спектра позволяет проводить исследования методами АСМ и КР микроскопии в различных средах: в воздухе, жидкости или контролируемой газовой атмосфере (в конфигурации Inverted).
Для всех видов измерений можно варьировать температуру образца, контролировать влажность, газовый состав и влияние внешнего магнитного поля.
Возможно использование электрохимической ячейки.
* Возможна интеграция АСМ со спектрометром Renishaw или спектрометром НТ-МДТ
** Точное значение спектрального разрешения зависит от определения  "разрешения"

Конфигурация Интегра Раман

 

Скачать

Информационные брошюры

Примеры применений

Ключевые публикации

Контакты

Для получения дополнительной информации заполните специальную форму.

 
 
Copyright © 1998 - 2016, NT-MDT