TITANIUM
АСМ Раман
Модульные СЗМ
Автоматизированные СЗМ
Специализированные СЗМ
 

Главная-> Автоматизированные СЗМ-> NEXT


Модельный ряд
NEXT Fully automated AFM/STM system NEXT. NT-MDT – AFM-probes, atomic force microscope (AFM, HybriD Mode,  STM, SPM, RAMAN, SNOM) LIFE Атомно-силовой микроскоп для биомедицинских исследований Лайф (LIFE). НТ-МДТ – АСМ-зонды, Сканирующие зондовые микроскопы (АСМ, СТМ, СЗМ, СБОМ, Раман) OPEN Опен (OPEN) – универсальный автоматизированный СЗМ.  НТ-МДТ – АСМ-зонды, Сканирующие зондовые микроскопы (АСМ, СТМ, СЗМ, СБОМ, Раман)

NEXT

Полностью автоматизированный
АСМ/СТМ для научных исследований
Fully automated AFM/STM system NEXT. NT-MDT – AFM-probes, atomic force microscope (AFM, STM, SPM, RAMAN, SNOM)
Информационная
брошюра
(5.02 Мб)

Основные особенности

  • Высочайший уровень автоматизация в СЗМ индустрии
  • Беспрецедентно низкий уровень шумов
  • Быстрый сканер, оснащенный низкошумящими датчиками
  • Атомное разрешение
 
  • 60+ СЗМ методов в базовой конфигурации
  • Непрерывное увеличение от миллиметров к ангстремам
  • Интеграция инновационной АСМ методикой HybriD Mode™
 

Максимальная автоматизация

14 высокоточных шаговых двигателей управляют всеми подвижными частями микроскопа, а интеллектуальное программное обеспечение стирает грань между оптическим и СЗМ изображением. NEXT обеспечивает непрерывное увеличение от миллиметровых панорамных оптических изображений до атомарного разрешения, а такие промежуточные операции, как наведение лазера на кантилевер, позиционирование образца, «мягкий» подвод и конфигурация продвинутых СЗМ методик происходит автоматически.

Возможности автоматизации:
 

  • Распознавание кантилевера и автоматическая настройка системы регистрации изгибов кантилевера как на воздухе, так и в жидкости;
  • Автоматическая фокусировка оптического микроскопа;
  • Построение 7×7 мм панорамного оптического изображение с 2 мкм разрешением;
  • Позиционирование образца по целеуказанию на оптическом изображении;
  • Патентованный алгоритм «мягкого» подвода зонда и автоматическая настройка рабочих параметров сканирования;
 
  • Автоматическое конфигурирование ПО для всех продвинутых СЗМ методик;
  • Эргономичный 3D-манипулятор для перемещений образца и оптического микроскопа.
  • Процедура MultiScan™, позволяющая автоматически осуществлять последовательное сканирование областей до 5×5 мм с возможностью сшивки перекрывающихся сканов;
  • Возможность проведения сотен измерений в день с минимальным участием оператора;
 

Методики измерения

Новый СЗМ контроллер PX Ultra и программное обеспечение последнего поколения предоставляют широчайшие возможности как начинающим, так и опытным пользователям. NEXT оснащен более чем 60 методиками в базовой конфигурации.
 

Новый PX Ultra контроллер
Благодаря использованию новейшей элементной базы, PX Ultra контроллер обладает высокой производительностью и гибкостью в конфигурировании. Низкошумящие высоковольтные усилители (шум <1 мВ/600 В) вместе с рекордно минимальными шумами системы слежения (~25 фм/√Гц) позволяют получать результат высочайшего качества, а возможность использования одновременно до 5 синхронных детекторов открывает новые возможности в исследование электрофизических свойств материалов.

Простота использования и гибкое ПО
Программное обеспечение Nova PX оснащено системой автоматической установки параметров и интеллектуальными алгоритмами для быстрой конфигурации работы NEXT во всех продвинутых методиках. Наряду с быстрой конфигурацией, Nova PX даёт исследователям неограниченную гибкость в настройках.

Измерение рельефа
Рельеф поверхности измеряется с помощью контактной, амплитудно-модуляционной АСМ, а также инновационной методики HybriD Mode™, как в на воздухе, так и в жидкости.

Анализ кривых
Анализ кривых различной природы (зависимость силы, амплитуды, частоты, фазы или тока от расстояния, а также ВАХ, АЧХ и много другое) даёт в дополнение ко всему мощный инструмент для характеризации образца.

Исследование магнитных свойств
МСМ измерения NEXT позволяет проводить с использованием двухпроходных методик, построчной и покадровой.

 

Электрические измерения
NEXT позволяет реализовать широкий спектр различных электрических измерений, таких как электростатическая силовая микроскопия с фазовой, частотной и амплитудной модуляций, Кельвин-зондовая силовая микроскопия с фазовой и амплитудной модуляцией, измерение распределения dC/dZ и dC/dV, измерение диэлектрической проницаемости, отображение сопротивления растекания и силовая микроскопия пьезоотклика.

СТМ измерения
Измерения методом сканирующей туннельной микроскопии возможны по методу постоянного тока и постоянной высоты. Кроме того возможно одновременное отображение плотности состояний и работы выхода, а также снятие зависимостей I(V), I(Z), dI/dV и dI/dZ.

Наномеханика
Одной из дополнительных возможностей NEXT является наносклерометрия. NEXT позволяет получать численные значения твёрдости и модуля Юнга с использованием зондов Берковича и стандартных АСМ кантилеверов в зависимости от свойств исследуемого образца.

Инновационная методика HybriD Mode™
HybriD Mode™ (HD-AFM™) – инновационная АСМ методика, которая с помощью контроллера HybriD даёт комплексную информацию об образце за один цикл измерений. В процессе измерений зонд тысячи раз в секунду проходит весь диапазон значимых силовых взаимодействий – от нулевого до прямого контактного взаимодействии с образцом. Это позволяет получать распределение широкого спектра морфологических, механических, химических, электрических, магнитных и других характеристик образца.

 

Дополнительная информация

Информационные брошюры

Примеры применений

  • Piezoresponse Force Microscopy in Its Applications AN 083  (1,86 Mb)
    Size: A4 or Letter
  • Exploring Materials with AFM-based Electrostatic Modes AN 084  (2,12 Mb)
    Size: A4 or Letter
  • Exploring Nanomechanical Properties of Materials with Atomic Force Microscopy AN 085  (1,58 Mb)
    Size: A4 or Letter
  • Next Scanning Probe Microscope: Visualization of Surface Nanostructures and Morphology AN 086  (1,87 Mb)
    Size: A4 or Letter
  • Expanding AFM with HybriD Mode Imaging AN 087  (2,71 Mb)
    Size: A4 or Letter
  • High-Resolution Imaging in Different Atomic Force Microscopy Modes. Summary AN 088s  (1,13 Mb)
    Size: A4 or Letter
  • High-Resolution Imaging in Different Atomic Force Microscopy Modes AN 088  (1,73 Mb)
    Size: A4 or Letter
 

Применения

  •  Все основные методики атомно-силовой микроскопии. Отображение рельефа, фазы, измерение электрических характеристик, возможность нанолитографии и многое другое
  •  Сканирующая туннельная микроскопия
  •  Широкий диапазон контролируемых условий для проведения эксперимента — на воздухе, в жидкости, с нагревом образца
  •  Сканер прибора оснащен емкостными низкошумящими датчиками по трём координатам, обеспечивающими возможность метрологических измерений с атомным разрешением
             
 
 
 
Микропоры в нитроцеллюлозной мембране.
АМ-АСМ. Размер скана
7×7 мкм.
 
 
Монодоменный
образец
BFO.
ПСМ, фаза.
Размер скана 3×3 мкм.
 
Молекулы PnBA на слюде
Карта адгезии, HybriD Mode™.
Размер скана  300×300 нм.
 
Поверхностный
потенциал
SRAM.
Однопроходная АМ-КЗСМ.
Размер скана 40×40 мкм.
 
 
 
Кальцит, атомное разрешение.
АМ-АСМ в жидкости.
Размер скана 7×7 нм.
 
Изображение рельефа ab плоскости
кристалла
TTF-TCNQ.
АМ-АСМ. Размер скана 9×9 нм.
 
ВОПГ, атомное разрешение.
STM. Размер скана 2.1×2.1 нм.
 
Изображение тестового образца, полученное по методике MultiScan
(12 АСМ сканов).
Размер  изображения
200×200 мкм.
 

Аксессуары


Жидкостная головка

Наносклерометрическая головка

Нагревательный столик

Джойстик

АСМ зондовые датчики
 

Спецификация

Измерительные методики

На воздухе
АСМ (контактная, амплитудно-модуляционная), АСМ спектроскопия, АСМ литография (силовая, токовая, вольтовая) , Растровая прыжковая силовая микроскопия, Латерально-силовая микроскопия, Силовая модуляционная микроскопия, Отображение сопротивления растекания, Силовая микроскопия пьезоотклика и переключательная спектроскопия, ЭСМ, Кельвин-зондовая силовая микроскопия, МСМ, СТМ (микроскопия, спектроскопия, литография) , Наносклерометрия.

В жидкости
АСМ (контактная, амплитудно-модуляционная), АСМ спектроскопия, Силовая АСМ литография, РПСМ, ЛСМ, СММ.

Технические характеристики
Измерительная система
  Измерительные головки АСМ и СТМ (стационарные, с автоматической установкой); жидкостная и наносклерометрическая (сменные, с ручной установкой)
  Доступные СЗМ методы АСМ, СТМ, наносклерометрия на воздухе АСМ, в жидкости
  Система регистрации отклонений
  кантилевера
автоматизированная юстировка
Образец
  Размер до 20 мм в диаметре, до 10 мм в высоту
  Вес образца до 40 г
  Температурный контроль образца от комнатной до 150° С
Система сканирования
  Тип сканирования образцом
  Область сканирования 100x100x10 мкм (с датчиками обратной связи)
3x3x2 мкм в режиме высокого разрешения
  Нелинейность, XY 0.1 % (с датчиками обратной связи)
Разрешение
  Шум XY не более 0.3 нм (с датчиками обратной связи)
  Уровень шума Z (RMS в полосе 10 — 1000 Гц) 0.03 нм (типично) с датчиками обратной связи
0.02 нм в режиме высокого разрешения
Система позиционирования образца
  Способ позиционирования автоматизированный, привязанный к системе видеонаблюдения
  Диапазон, XY 5x5 мм
  Минимальный шаг 0.3 мкм
Система видеонаблюдения
  разрешение 2 мкм
  фокусировка моторизованная
  zoom непрерывное увеличение рабочей области моторизованная
Размеры и вес
  Размеры  470x210x260 мм
  Вес  25 кг
 
 

Контакты

Для получения дополнительной информации заполните специальную форму.

 
 
 
Copyright © 1998 - 2016, NT-MDT