Платформа ИНТЕГРА: ИНТЕГРА Спектра

Основная информация Особенности Технические характеристики Применения Конфигурации

ИНТЕГРА Спектра выиграла престижнейший конкурс R&D 100 Award    

Новая эра в интеграции                      
    

ИНТЕГРА Спектра (НТ-МДТ) + Рамановский спектрометр (Renishaw) = Соединяем лучшее в
одной системе

ИНТЕГРА Спектра – это уникальная интеграция Сканирующего Зондового Микроскопа с конфокальной микроскопией/спектроскопией люминесценции и комбинационного рассеяния (КР). Благодаря эффекту гигантского усиления КР позволяет проводить КР спектроскопию и получать изображения с разрешением в плоскости до 50 нм.

Только ИНТЕГРА Спектра предоставляет возможность создания полностью технически интегрированной со спектрометром компании Renishaw системы для реализации оптимальных решений в области междисциплинарных исследований на молекулярном уровне. Благодаря объединению аппаратного и программного обеспечения, можно добиться максимальной производительности при минимальных временных затратах и сосредоточиться на самом главном – сборе и анализе данных.

Система для конфокальной оптической микроскопии
Нанолаборатория ИНТЕГРА Спектра представляет собой комбинированную систему, включающую конфокальный сканирующий лазерный спектрометр высокого пространственного разрешения, оптический микроскоп и универсальный сканирующий зондовый микроскоп. Система способна работать в режиме регистрации пространственного, трехмерного распределения спектров люминесценции и комбинационного рассеяния света, а также в различных режимах сканирующей зондовой микроскопии, включая наноиндентацию, наноманипуляцию и нанолитографию.

Система для сканирующей зондовой микроскопии
Одновременно с оптическим наблюдением, ИНТЕГРА Спектра позволяет исследовать объект с помощью арсенала методов сканирующей зондовой микроскопии — АСМ, МСМ, СТМ, сканирующей ближнепольной микроскопии, силовой спектроскопии. Уникальное совмещение оптических и зондовых методов в одном приборе позволяет ставить комплексные эксперименты, в которых информация о распределении оптических свойств образца и его химического состава может быть наложена на распределение его механических, электрических, магнитных и других свойств.

Система для исследования оптических свойств объекта за пределом дифракции (флуоресценция, спектроскопия комбинационного рассеяния)
Отличительной чертой Нанолаборатории ИНТЕГРА Спектра является возможность исследовать оптические свойства объектов за пределом дифракционных ограничений. Cканирующая ближнепольная оптическая микроскопия и эффекты локального усиления комбинационного рассеяния (TERS — tip enhanced Raman scattering), дают возможность картировать распределение оптических свойств (пропускание, рассеяние, поляризация света и др.), а также осуществлять спектроскопию комбинационного рассеяния с разрешением до 50 нм в плоскости XY.

Пример использования ИНТЕГРА Спектра см. в :

1. "Focus on Atomic force and shear force based tip-enhanced Raman spectroscopy and imaging".  Nanotechnology 18 (2007) 315502. (pdf,  1.7 Mb)
2. "Tip-enhanced Raman Spectroscopy and Imaging". Imaging & Microscopy v. 9 (2007) p. 56. (pdf,  2.6 Mb)
    

Для получения более подробной информации заполните, пожалуйста, форму.