Читать NT-MDT в Твиттере Читать NT-MDT в Facebook
Онлайн-сервис! АСМ зонды Запрос информации

Платформа ИНТЕГРА: ИНТЕГРА Спектра

  ИНТЕГРА Спектра выиграла
престижнейший конкурс
R&D 100 Award!
    Контакты
Павел Дорожкин 
   
 
Technical information & digests
  Key publications
  1. Информационная брошюра  (1.31 Мб) 
  2. AFM-RAMAN-SNOM, Information brochure  (2.5 Mb)
  3. NT-MDT + Renishaw  (1.1 Mb)
  4. SNOM digest  (1.9 Mb)
  5. Graphene digest  (2.2 Mb)
  
  1. Nanoscale Chemical Imaging Using Top-Illumination Tip-Enhanced Raman Spectroscopy .  J. Stadler, T. Schmid, and R. Zenobi, Nano Letters (2010) (4.9 Mb)
  2. "Finding a needle in a chemical haystack: tip-enhanced Raman scattering for studying carbon nanotubes mixtures".  A. Chan & S. Kazarian, Nanotechnology 21 (2010)  (545 Kb)
  3. "Observation and control of blinking nitrogenvacancy centres in discrete nanodiamonds". Nature nanotechnology, 11 april, 2010  (0.8 Mb)
  4. "AFM + Raman Microscopy + SNOM + Tip-Enhanced Raman: Instrumentation and Applications" P. Dorozhkin, E. Kuznetsov, A. Schokin, S. Timofeev, and V. Bykov, Microscopy Today (2010) (1.7 Mb)
  5. "Focus on Atomic force and shear force based tip-enhanced Raman spectroscopy and imaging".  Nanotechnology 18 (2007) 315502  (1.7 Mb)
  6. "Tip-enhanced Raman Spectroscopy and Imaging". Imaging & Microscopy v. 9 (2007) p. 56  (2.6 Mb)
Комплексное аналитическое
оборудование для
наноцентров – продукция NTI
Первое приложение
для Нано
теперь доступно
в iTunes App Store
НТ-МДТ сертифицирована по
ГОСТ Р ИСО 9001-2001 и международной
системе качества ISO 9001:2000
Copyright © 1998 - 2012, NT-MDT