|
|
|
Платформа СОЛВЕР: СОЛВЕР НЕКСТ
|
|
|
- HeadHiPEX™ (Head High Precision ExChange System) система предназначена для управления измерительными головками. HeadHiPEX™ осуществляет автоматическую смену встроенных (АСМ, СТМ) и дополнительных внешних головок, осуществляя их прецизионное позиционирование над образцом
- Многофункциональная система создания однородной среды вокруг образца IsoShield™. Система поддерживает вокруг образца однородную среду (постоянную температуру, контролируемый уровень влажности, пренебрежимо малый уровень паразитного электромагнитного поля; обеспечивает электростатическую изоляцию). Система также осуществляет защиту оператора от лазерных лучей при открытой измерительной камере
- Легкая в управлении автоматическая прецизионная система навигации образца PINpoint™ (Precision Instrument Navigation System) обеспечивает точное расположение образца и прицельное позиционирование системы видеонаблюдения
- ExpertFBA™ (Expert Fine Beam Alignment System) обеспечивает автоматическую юстировку оптической системы (кантилевер — лазер — фотодиод)
- Электронная система переключения размера области сканирования ScanScaler™ обеспечивает легкое автоматизированное переключение режима сканера между большим (до 100 мкм) и малым полями сканирования
- Моторизованная фокусировка и увеличение (zoom) изображения
- Автоматическая настройка режимов измерений в программном обеспечении
- Все основные методики атомно-силовой микроскопии. Топография, отображение фазы, измерение электрических характеристик, возможность нанолитографии и многое другое
- Сканирующая туннельная микроскопия
- Широкий диапазон контролируемых условий для проведения эксперимента — на воздухе, в жидкости, с нагревом образца
- Емкостные низкошумящие датчики по трем координатам обеспечивают возможность метрологических измерений с атомарным разрешением
|
