Платформа ИНТЕГРА: ИНТЕГРА Спектра

		ИНТЕГРА Спектра выиграла престижнейший конкурс R&D 100 Award!
		Контакты Павел Дорожкин

Конфокальная КР / Флуоресцентная микроскопия

Одновременное исследование одной и той же области образца методами конфокальной КР/ флуоресцентной/ Рэлеевской микроскопии и атомно-силовой микроскопии

Дифракционный предел пространственного разрешения: <200 нм по осям X и Y, <500 нм по оси Z (с иммерсионным объективом)

Истинная конфокальность − диафрагма с моторизованным изменением размера для обеспечения конфокальности и оптимизации сигнала

Моторизированный расширитель пучка/коллиматор: используйте индивидуальные настройки диаметра и коллимации луча для разных лазеров и объективов

Получение гиперспектральных изображений (полный спектр КР регистрируется в каждой точке одно-, двух- и трехмерного конфокального изображения) с последующей программной обработкой

Оптическая литография (векторная, растровая)

АСМ/СТМ: интеграция со спектроскопией

Прямая и инвертированная оптические схемы совмещения с АСМ (оптимизированы для изучения непрозрачных и прозрачных образцов соответственно), возможна схема боковой засветки

Оптика с максимально возможным оптическим разрешением (числовой апертурой) при одновременных АСМ исследованиях: 0,7 NA для прямой схемы, 1,3–1,4 NA для инвертированной схемы

Одновременное исследование одного и того же образца методами АСМ / СТМ и конфокальной лазерной/КР/ флуоресцентной микроскопии

Поддерживаются стандартные методики СЗМ (более 30 методик) — в сочетании с конфокальной КР / флуоресцентной микроскопией

Низкий уровень шума при исследованиях методами АСМ / СТМ (атомарное разрешение)

Оптическая АСМ головка уникальной конструкции обеспечивает минимизацию вибраций и термодрейфов, возникающих при использовании оптического микроскопа

Автоматическое отслеживание фокуса: образец всегда находится в фокусе благодаря АСМ обратной связи по Z. Может быть достигнуто высокое качество конфокальных изображений образцов с шероховатой или наклонной поверхностью

Программное обеспечение

Полная интеграция АСМ и оптической микроскопии / спектроскопии: исследования всеми методами АСМ / КР микроскопии / СБОМ, дальнейшая обработка результатов и анализ данных осуществляются одним и тем же программным обеспечением

Комплексный анализ одно-, двух- и трехмерных гиперспектральных изображений

Возможен экспорт данных в другие программы (Excel, MatLab, Cytospec etc.)

Спектроскопия*

Очень высокая оптическая эффективность 520 мм спектрометра с четырьмя моторизованными решетками

Доступны видимый, УФ и ИК диапазоны спектра

Решетка Эшелле со сверхвысокой дисперсией; спектральное разрешение: 0.007 нм (< 0.1 см-1 ) (< 0.1 1/cm)**

В одном комплексе возможна установка до 3 различных детекторов:

CCD камера с термоэлектрическим охлаждением до -100°C или EMCCD камера — для быстрого сканирования
фотоэлектронный умножитель (ФЭУ) или лавинный фотодиод (ЛФД) в режиме счета фотонов
фотоэлектронный умножитель для Рэлеевской микроскопии.

Возможность использования моторизованных поляризационных устройств в каналах возбуждения и детектирования, измерение КР в скрещенных поляризациях

Автоматизированное переключение между различными лазерами

Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия (СБОМ)

Поддерживаются два основных типа СБОМ: (i) основанный на применении оптоволоконных зондов, (ii) основаный на применении кремниевых АСМ зондов

Поддерживаются все оптические схемы: на пропускание, на отражение, сбора излучения

Регистрируются все СБОМ сигналы: интенсивность лазерного излучения, флуоресценция, а также спектроскопия

SNOM lithography (vector, raster)

Гигантское комбинационное рассеяние и другие оптические методики, связанные с локальным усилением сигнала (TERS, TEFS, S-SNOM, STM-LE)

Доступны все существующие конфигурации TERS: засветка/сбор снизу, сверху, сбоку

Могут быть использованы различные СЗМ методики и типы зондов: СТМ иглы, АСМ зондовые датчики (микромеханические и камертонные) в полуконтактной методике и поперечно-силовой микроскопии

Двойное сканирование (для нахождения точки усиления TERS): сканирование образцом и сканирование зондом / пятном лазера

Моторизованная поляризационная оптика для обеспечения оптимальной для TERS поляризации

ИНТЕГРА Спектра позволяет проводить исследования методами АСМ и КР микроскопии в различных средах: в воздухе, жидкости или контролируемой газовой атмосфере.
Для всех видов измерений можно варьировать температуру образца, контролировать влажность, газовый состав и влияние внешнего магнитного поля.
Возможно использование электрохимической ячейки.
* Возможна интеграция АСМ со спектрометром Renishaw или спектрометром НТ-МДТ
** Точное значение спектрального разрешения зависит от определения "разрешения"