Специализированный СБОМ
Рис.1 Специализированный СБОМ
Рис.2 Измерительная головка на платформе
Уникальная система, специально разработанная для реализации возможностей сканирующей ближнепольной оптической микроскопии. Основу комплекса составляет измерительная головка, XY сканирующее сменное основание, подключающиеся к СЗМ контроллеру посредством специального адаптера, и оптический микроскоп. Конфигурация прибора дает возможность соединения АСМ или СБОМ измерительных головок и практически любого оптического микроскопа посредством основания.
Для оптимизации контроля за процессом сканирования и подвода зонда к образцу возможно дополнительно установить систему видеонаблюдения на внешнем штативе.
В базовую комплектацию входит СБОМ головка, позволяющая изучать приповерхностные характеристики образцов с разрешением, превышающим дифракционный предел. Использование измерительной СБОМ головки наряду с обычным комплексом СЗМ методик позволяет реализовать оптические методики измерений.
Прибор предназначен для исследования биологических объектов, нано- и интегрально-оптических элементов, полупроводниковых структур, наноэлектронных элементов.
Для получения более подробной информации заполните, пожалуйста, форму.
