Читать NT-MDT в Твиттере Читать NT-MDT в Facebook
Онлайн-сервис! АСМ зонды Запрос информации

Галерея сканов: Ge(Si) островки, выращенные на релаксированном SiGe буферном слое

Название: Ge(Si) островки, выращенные на релаксированном SiGe буферном слое
MDT-файл: x30-26.02.2009.mdt (8.02 Mb)

Ge(Si) островки, выращенные на релаксированном SiGe буферном слое

Изображение получено Шалеев Михаил Владимирович. Институт физики микроструктур РАН, Нижний Новгород, Россия.
Образец предоставлен А.В.Новиков, И.Ю.Шулешова, М.В.Шалеев Институт физики микроструктур РАН.

« Массив упорядоченных пирамидальных Ge(Si) островков Ge(Si) островки, выращенные на релаксированном SiGe буферном слое »
Комплексное аналитическое
оборудование для
наноцентров – продукция NTI
Первое приложение
для Нано
теперь доступно
в iTunes App Store
НТ-МДТ сертифицирована по
ГОСТ Р ИСО 9001-2001 и международной
системе качества ISO 9001:2000
Copyright © 1998 - 2012, NT-MDT