Пленка из полипропилена с тонким алюминиевым покрытием. Пленка была растянута вдоль горизонтальной оси (деформация 17%), видны разрывы и складки покрытия. В процессе сканирования пленка удерживалась в напряженном состоянии специальным зажимом.
Микроскоп Smena, полуконтактный режим, сканирование на воздухе.
Изображение получено Д.В.Багровым (физический факультет МГУ), образец предоставлен Л.М.Ярышевой (химический факультет МГУ).
|
Название: Пленка из полипропилена с тонким алюминиевым покрытием
Пленка из полипропилена с тонким алюминиевым покрытием. Пленка была растянута вдоль горизонтальной оси (деформация 17%), видны разрывы и складки покрытия. В процессе сканирования пленка удерживалась в напряженном состоянии специальным зажимом.
Микроскоп Smena, полуконтактный режим, сканирование на воздухе.
Изображение получено Д.В.Багровым (физический факультет МГУ), образец предоставлен Л.М.Ярышевой (химический факультет МГУ).
|
