Галерея сканов: PZT тонкая пленка

Изображение рельефа поверхности сегнетоэлектрика PZT тонкой пленки изготовленной при помощи золь-гелевой технологии и кристаллизованной из аморфному состоянию процедурой быстрого, термического отжига. Видно совместное сосуществование обычных частиц и частиц розеточного типа. Левое и правое изображения-рельефa и отклонения сигнала соответственно, получено при помощи контактного метода АСМ.

Изображение были получены  Дмитрием Козодаевым, NT-MDT.
Образец предоставлен Владимиром Шуром, Лаборатория Сканирующей Зондовой Микроскопии, Уральский Государственный Университет, Екатеринбург, Россия. (labfer.usu.ru)