Change language
English
Русский
中文
Онлайн-сервис!
АСМ зонды
Запрос информации
Продукция
Платформа НАНОФАБ 100
Платформа НАНОФАБ 25
Технологическое оборудование
Платформа ИНТЕГРА
Платформа СОЛВЕР
Платформа НАНОЭДЬЮКАТОР
АСМ зонды
Дополнительное аналитическое оборудование
Применения
Специализированные применения
Примеры применений
Галерея сканов
Публикации
Центр обучения
Удивительная нанотехнология и СЗМ ссылки
Методики СЗМ
Основы СЗМ
Терминология СЗМ
Пользователям
ЧАВО
Руководства пользователя
Программное обеспечение
СЗМ методология
iPhone приложение
О компании
Основная информация
Пресс-релизы
СМИ о компании
Награды
Сертификаты
Патенты
Научное сотрудничество
Вакансии
Отзывы пользователей
Новости
Новости
Выставки
Достижения пользователей
Контакты
НТ-МДТ Центральный офис
NT-MDT Europe BV
NT-MDT America
NT-MDT S&L
NT-MDT Shanghai
NT-MDT Development
Дистрибьюторы
Запрос информации
Удивительная нанотехнология и СЗМ ссылки
Методики СЗМ
Основы СЗМ
1.Сканирующая туннельная микроскопия (СТМ)
2. Сканирующая силовая микроскопия (ССМ)
2.1 Кантилевер
2.2 Силовое взаимодействие зонда с поверхностью
2.2.1 Потенциал взаимодействия зонда с образцом. Режимы работы АСМ.
2.2.2 Упругие взаимодействия. Задача Герца
2.2.3 Капиллярные силы
2.2.4 Сила Ван-дер-Ваальса.
2.2.5 Магнитное взаимодействие
2.2.6 Электростатическое взаимодействие
2.2.6.1 Взаимодействие при наличии зарядов и диполей
2.2.6.2 Взаимодействие зонда и образца при приложении напряжения
2.2.6.3 Взаимодействие, обусловленное контактной разностью потенциалов
2.2.7 Адгезионные силы
2.3 Линейные колебания кантилевера
2.4 Нелинейные колебания кантилевера
2.5 Предельное разрешение в контактном режиме
2.6 Латеральные силы взаимодействия зонда и образца
2.7 Количественная интерпретация результатов магнитно-силовой микроскопии (МСМ)
3. Сканирующая оптическая микроскопия
4. Flash модели
Терминология СЗМ
2.2.6 Электростатическое взаимодействие
2.2.6.1 Взаимодействие при наличии зарядов и диполей
2.2.6.2 Взаимодействие зонда и образца при приложении напряжения
2.2.6.3 Взаимодействие, обусловленное контактной разностью потенциалов
Комплексное аналитическое
оборудование для
наноцентров –
продукция NTI
Первое приложение
для Нано
теперь доступно
в iTunes App Store
НТ-МДТ
сертифицирована
по
ГОСТ Р ИСО 9001-2001 и международной
системе качества ISO 9001:2000
Copyright © 1998 - 2012, NT-MDT
