Читать NT-MDT в Твиттере Читать NT-MDT в Facebook
Онлайн-сервис! АСМ зонды Запрос информации

Терминология СЗМ

UAFM

Ultrasonic AFM
Appl. Phys. Lett. 78, 1939 (2001).

UCSB

University of California, Santa Barbara

UFM

Ultrasonic Force Microscopy
Appl. Phys. Lett. 64, 178 (1994); Nanotechnology 12, 53 (2001).

UHV

Ultra High Vacuum (Microscope)
Комплексное аналитическое
оборудование для
наноцентров – продукция NTI
Первое приложение
для Нано
теперь доступно
в iTunes App Store
НТ-МДТ сертифицирована по
ГОСТ Р ИСО 9001-2001 и международной
системе качества ISO 9001:2000
Copyright © 1998 - 2012, NT-MDT