TITANIUM
АСМ Раман
Модульные СЗМ
Автоматизированные СЗМ
Специализированные СЗМ
 
 

Принцип работы СЗМ

СЗМ (Сканирующая Зондовая Микроскопия) – общее название для ряда зондовых микроскопий, включая Атомно-Силовую Микроскопию (АСМ), Сканирующую Туннельную Микроскопию (СТМ), Сканирующую Ближнепольную Оптическую Микроскопию (СБОМ) и др. Общим признаком СЗМ является сканирование исследуемого образца острийным зондовым датчиком, чье взаимодействие с поверхностью является короткодействующим. Принцип работы СЗМ в общем случае заключается в сканировании поверхности образца под управлением контроллера, поддерживающего постоянный уровень взаимодействия зонд СЗМ–образец в процессе сканирования. В этом случае изменение величины управляющего сканированием сигнала контроллера СЗМ отображает рельеф поверхности. Для относительно гладких поверхностей возможно осуществлять сканирование на постоянной высоте, при этом в процессе сканирования рельеф поверхности определяется изменением величины взаимодействия зонд СЗМ-образец.

Указанные методики СЗМ для отображения рельефа являются базовыми, однако в процессе сканирования зонды СЗМ могут регистрировать, помимо рельефа, другие характеристики и свойства поверхности. Это могут быть наномеханические, электрические, магнитные и прочие физико-химические параметры.

Дополнительная информация об исследуемой поверхности, помимо рельефа, может быть получена также путем локальных измерений зависимости величины взаимодействия зонда СЗМ с образцом при изменении расстояния СЗМ зонд-образец. Такие методики СЗМ называются «Спектроскопиями» (СТМ Спектроскопии, АСМ Спектроскопии).

 
 
Copyright © 1998 - 2016, NT-MDT