Резонансная Спектроскопия
Взаимодействие колеблющегося зонда с образцом влияет не только на амплитуду и фазовый сдвиг, но также и резонансную частоту колебаний кантилевера f и форму резонансной кривой (добротность Q). В процессе сканирования наблюдаются изменния как f, так и Q. Эти изменения являются результатом различных видов взаимодействий зонд-образец. Для более полной характеризации этих взаимодействий весьма полезно получить резонансные кривые (РК) в каждой точке сканируемого участка поверхности на определенном расстоянии от поверхности (резонансная спектроскопия(РС): амплитуда(f,x,y), где f частота). Затем полученные данные могут быть обработаны и могут быть определены различные параметры взаимодействия.
Изменения градиента сил зонд-образец в процессе сканирования приводит к изменениям резонансной частоты. Различные диссипативные процессы приводят к изменению формы пика резонансной кривой. В результате для характеризации взаимодействия зонд-образец в каждой точке сканируемого участка могут быть определены максимальная амплитуда, резонансная частота и полуширина резонанного пика или добротность Q. Tакая методика может быть использована для изучения, например, магнитных диссипативных процессов
[1, 2].
РС позволяет детально анализировать взаимодействия зонд-образец без электронной модификации. С помощью этой методики могут быть получены распределения частоты колебаний, амплитуды и добротности для одного и того же участка.
РС помогает изучать любые диссипативные процессы, происходящие во время сканирования. Если образец состоит из областей с различной вязкостью (например, смесь полимеров), то диссипация может быть измерена методом модуляции силы.
Ссылки
- J. Appl. Phys. 81(8), 1997, 5024.
- Appl. Phys. Lett. 74(3), 1999, 419-421.
