I(V) Спектроскопия
Проведение I(V) Спектроскопии (Current Imaging Tunneling Spectroscopy, CITS) предполагает одновременное получение обычного изображения рельефа при фиксированных значениях тока I
o и напряжения смещения V
o. В каждой точке изображения обратная связь разрывается, и напряжение смещения проходит ряд значений V
i при этом записываются соответствующие значения тока I
i. Затем напряжение возвращается к V
o и обратная связь включается снова. Каждая I-V кривая может быть получена за несколько миллисекунд, так что дрейф положения зонда не оказывает существенного влияния. Эта процедура генерирует полное токовое изображение I
i(x,y) для каждого значения напряжения V
i в дополнение к изображению рельефа
z(x,y)|
VoIo.
CITS значения могут быть использованы для расчета токового разностного изображения DI
Vi,Vj(x,y) где V
i и V
j ограничивают частные поверхностные состояния, производя реальное пространственное отображение поверхностных состояний с атомарным разрешением. Эта методика может быть использована, например, в сверхвысоком вакууме для отображения заполненных состояний адатомов или ненасыщенных связей для реконструкций кремния.
Ссылки
- G. Binnig and H. Rohrer: Surf. Sci. 126 (1983) 236. Rep. Prog. Phys. 55, 1165-1240 (1992).
