Новый адрес Европейского офиса
NT-MDT Europe BV
 
Онлайн-сервис! АСМ зонды Запрос информации

Метод Зонда Кельвина

Метод Зонда Кельвина был предложен для измерения контактной разности потенциалов между зондом и образцом [1]. Применяемый в настоящее время Метод Зонда Кельвина основывается на двухпроходной методике. В первом проходе определяется рельеф поверхности образца с использованием Прерывисто-контактного метода (колебания кантилевера возбуждаются механически). На втором проходе этот рельеф отслеживается при прохождении над образцом на некоторой высоте  для определения поверхностного электрического потенциала Ф(x). В течение этого второго прохода колебания кантилевера возбуждаются не механически, а электрически путем приложения к зонду напряжения смещения  Vtip содержащего статическую и динамическую компоненты

Vtip=Vdc + Vac sin(wt)

Результирующая емкостная сила Fcap между зондом и поверхностью, находящейся при Vs равна

Fcap =(1/2) (Vtip - Ф(x))2(dC/dz)

где C(z) является емкостью зонд-образец. Сила

Fcap w = (dC/dz(Vdc- Ф(x)Vac)sin(wt)

действующая на первой гармонике приводит к соответствующим колебаниям кантилевера. Система обратной связи изменяет переменную составляющую потенциала зонда Vdc пока w компонента колебаний кантилевера (и, соответственно, w компонента силы зонд-образец) не исчезнет, т.е. пока  Vdc (x) не станет равной Ф(x). В результате распределение Vdc (x) будет отражать распределение поверхностного потенциала по поверхности образца. Если на зонд не подается постоянное смещение, то это распределение представляет распределение Контактной Разности Потенциалов.  

    Ссылки

  1. Appl. Phys. Lett. 58, 2921 (1991).

   Download Flash model

Surface potential of two-component LB film.

Размер скана: 6 x 6 um
Topography (upper picture) and surface potential distribution (lower picture) of two component Langmuir-Blodgett film.
Узнать больше »
Комплексное аналитическое оборудование для наноцентров – продукция NTI
Первое приложение
для Нано
теперь доступно
в iTunes App Store

НТ-МДТ сертифицирована по ГОСТ Р ИСО 9001-2001 и международной системе качества ISO 9001:2000

Copyright © 1998 - 2010, NT-MDT