Силовая Микроскопия Пьезоотклика

Основная идея Силовой Микроскопии Пьезоотклика заключается в локальном воздействии на пьезоэлектрический образец переменного электрического поля и анализу результирующих колебаний его поверхности под зондом [1].

      Ссылки

1. M. Alexe, A. Gruverman (Eds.). Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials. Scanning Probe Microscopy Approach. Springer, 2004.

    Download Flash model